測(cè)量基礎(chǔ)何謂移位計(jì)（位移傳感器）和尺寸測(cè)量?jī)x
何謂移位計(jì)（位移傳感器）
移位計(jì)（位移傳感器）指的是物體從某個(gè)位置向其他位置移動(dòng)時(shí)，測(cè)量其移動(dòng)量的設(shè)備。不僅可測(cè)量移動(dòng)量，還可用于物體的高度／厚度／寬度等尺寸測(cè)量，需要根據(jù)用途、所需精度及使用環(huán)境，選擇適合的設(shè)備。
移位計(jì)的測(cè)量方式大致分為2種，分別為使用光或磁場(chǎng)/聲波等的“非接觸式”和可直接接觸對(duì)象進(jìn)行測(cè)量的“接觸式”。
T各方式的原理和特點(diǎn)如下所示。
| 項(xiàng)目 | 非接觸式 | 接觸式 | |||
|---|---|---|---|---|---|
| 光學(xué)式 | 渦電流式 | 超聲波式 | 激光對(duì)焦式 | ||
| 檢測(cè)對(duì)象物體 | 大部分物體 | 金屬 | 大部分物體 | 大部分物體 | 固體 |
| 測(cè)量距離 | 普通 | 短 | 長(zhǎng) | 短 | 短 |
| 精度 | 高 | 高 | 低 | 高 | 高 |
| 響應(yīng)速度 | 快 | 快 | 慢 | 普通 | 慢 |
| 灰塵、水、油等 | 普通 | 強(qiáng) | 普通 | 普通 | 強(qiáng) |
| 測(cè)量面 | 小 | 普通 | 大 | 小 | 小 |
何謂尺寸測(cè)量?jī)x
尺寸測(cè)量?jī)x指的是可測(cè)量圓柱物體的外徑或物體高度、寬度及厚度等的設(shè)備。其測(cè)量對(duì)象不僅為尺寸值，還可用于獲得擺動(dòng)寬度或定位等信息。 測(cè)量方式包括，掃描激光后，通過(guò)物體產(chǎn)生陰影時(shí)間運(yùn)算的激光掃描方式和將平行光照射到物體上后，通過(guò)CCD圖像傳感器獲得物體產(chǎn)生陰影部分的方式。
各種用途
移位計(jì)（位移傳感器）和尺寸測(cè)量?jī)x可用于各種目的。以下為一個(gè)示例。
| 目的 | 例 |
|---|---|
| 厚度的確認(rèn) | 測(cè)量壓延鋼板的厚度是否均勻或粘貼玻璃的厚度是否在規(guī)格范圍內(nèi)等。 |
| 高度或高度差的確認(rèn) | 測(cè)量排列基板的高度是否均勻或組裝到基板中的芯片是否產(chǎn)生特別的高度差。 |
| 外徑的確認(rèn) | 測(cè)量批量生產(chǎn)的圓柱狀部件的外徑，并判斷各個(gè)部件是合格品還是不合格品。 |
| 變形、平面度 | 測(cè)量玻璃基板是否變形或研磨的金屬部件是否平坦等。 |
| 行程和定位 | 測(cè)量VCM馬達(dá)的行程量或目標(biāo)物已進(jìn)入加工設(shè)備內(nèi)的正確位置等。 |
| 3D形狀 | 在確認(rèn)部件變形后，不僅可在1個(gè)生產(chǎn)線上進(jìn)行測(cè)量，還可用于確認(rèn)平面上各個(gè)高度方向變形時(shí)的測(cè)量。 |
反射型
| 光電和接近開(kāi)關(guān) | 移位計(jì) |
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透過(guò)型
| 光電和接近開(kāi)關(guān) | 移位計(jì) |
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