分光干涉式激光位移計(jì)

產(chǎn)品陣容

SI-T 系列 - 分光干涉位移型多層膜厚測(cè)量?jī)x

實(shí)現(xiàn)多層膜厚, 采用近紅外光?沒有危害, 實(shí)時(shí)在線檢測(cè),一秒1000次的采樣頻率,為當(dāng)今膜厚測(cè)量?jī)x的提供新的可能性。

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SI-F 系列 - 微型傳感頭型分光干涉式 激光位移計(jì)

業(yè)界超細(xì)微型傳感器頭，超高精度，解決了內(nèi)置電子零件傳感次的發(fā)熱問題，也不受電磁噪聲影響。

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SI-F80R 系列 - 分光干涉式晶片厚度計(jì)

采用近紅外 SLD，即使已貼附 BG 帶也可測(cè)量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于圖案而產(chǎn)生的顯著差異，也可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的生產(chǎn)線上測(cè)量。

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